標(biāo)題：泰克SourceMeter光儀器（源測量單元）

產(chǎn)品概述

泰克SourceMeter光儀器（源測量單元）通過 Keithley 儀器，可以輕松構(gòu)建 LIV（光功率-電流-電壓）系統(tǒng)，從而經(jīng)濟高效地測試激光二極管模塊。

• 光纖對準(zhǔn)光電二極管儀表 2502 ：高速模擬輸出使得可在光纖對準(zhǔn)工作臺執(zhí)行 LIV 測試。

• 帶可選積分球 2520/KIT1 的脈沖激光二極管測試系統(tǒng) ：同步測試系統(tǒng)，為脈沖和連續(xù) LIV 測試提供純源化和測量功能。

• 注：此產(chǎn)品無法發(fā)貨到歐盟國家。 詳細(xì)信息 。

• TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT ：確保通過控制其熱電冷卻器，為激光二極管模塊提供嚴(yán)格的溫度控制。

泰克SourceMeter光儀器（源測量單元）主要特點

• 主動溫度控制

• 50W TEC控制器

• 全數(shù)字P-I-D控制

• 適用于熱控制環(huán)路的自動調(diào)諧功能（2510-AT）

• 寬溫度設(shè)定值范圍（-50°℃至+225℃）以及高設(shè)定值分辨率（+0.001°C）和穩(wěn)定性(士0.005°C)

• 兼容于多種溫度傳感器輸入一熱敏電阻、RTD和IC傳感器

• 交流歐姆測量功能

• 適用于熱反饋元件的四線開路/短路引線檢測

優(yōu)勢：

• 防止溫度變化可能引起激光二極管主輸出波長發(fā)生變化，導(dǎo)致出現(xiàn)信號重疊和串?dāng)_問題。

• 比其他低功耗解決方案提供更高的測試速度和更寬的溫度設(shè)定值范圍。

• 提供更高的溫度穩(wěn)定性，并可通過簡單的固件變化輕松升級。

• 無需反復(fù)試驗即可確定P、|和D系數(shù)的優(yōu)組合。

• 能夠滿足大部分冷卻光學(xué)元器件和子裝配件生產(chǎn)測試的測試要求。

• 適合常用于各類激光二極管模塊的溫度傳感器類型。

• 驗證TEC器件的完整性。

• 消除引線電阻測量值誤差，減少假故障或設(shè)備損壞的可能性。